專利名稱：一種用于機(jī)頂盒測試的遙控器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測試技術(shù)，尤其涉及一種用于機(jī)頂盒測試的遙控器。
背景技術(shù)：
參見圖l，為現(xiàn)有的用于機(jī)頂盒測試的遙控器，該遙控器包括微控制器(MCU， Microprogrammed Control Unit)、鍵盤和紅外發(fā)射頭。進(jìn)行某一測試項(xiàng)目時，測試人員需 要按照提示在遙控器的鍵盤上進(jìn)行多次按鍵，才能向MCU輸入關(guān)于某一測試項(xiàng)目的測試命 令，MCU接收該測試指令后通過紅外發(fā)射頭發(fā)送給機(jī)頂盒，機(jī)頂盒執(zhí)行相應(yīng)的測試操作。下 面以測試項(xiàng)目分別為左旋電壓測試和機(jī)頂盒版本號測試為例對現(xiàn)有的測試方案進(jìn)行舉例 說明。 對機(jī)頂盒的左旋電壓進(jìn)行測試時，測試人員先按遙控器的"MENU"鍵，再按遙控器 "I "鍵8次，再按遙控器"0K"鍵，再按"1"鍵，再按"2"鍵，再按"3"鍵，再按"4"鍵，再按 "5"鍵，再按"6"鍵，再按"0K"鍵，再按"I "鍵，再按"OK"鍵，再按"t "鍵，再按"OK"鍵， 至此，完成了通過按鍵將左旋電壓測試命令發(fā)送給MCU ;MCU接收左旋電壓測試命令后，通 過紅外發(fā)射頭將左旋電壓測試命令發(fā)送給機(jī)頂盒。機(jī)頂盒接收左旋電壓測試命令后，將左 旋電壓通過電視機(jī)顯示出來。測試人員將電視機(jī)顯示的左旋電壓與標(biāo)準(zhǔn)的左旋電壓進(jìn)行比 較，便可獲知機(jī)頂盒的左旋電壓是否正常。 對機(jī)頂盒版本號進(jìn)行測試時，測試人員先按遙控器的MENU鍵，再根據(jù)提示按多個 不同的按鍵，完成將機(jī)頂盒版本號測試命令輸入給MCU， MCU接收機(jī)頂盒版本號測試命令 后，通過紅外發(fā)射頭將機(jī)頂盒版本號測試命令發(fā)送給機(jī)頂盒，機(jī)頂盒接收機(jī)頂盒版本號測 試命令后，將版本號通過與該機(jī)頂盒相連的電視機(jī)顯示出來。測試人員將電視機(jī)顯示的版 本號與該機(jī)頂盒的真實(shí)版本號相對照，便可獲知該機(jī)頂盒內(nèi)記錄的版本號是否正確。 綜上，采用現(xiàn)有的遙控器對機(jī)頂盒進(jìn)行測試時，測試人員需要針對各個測試項(xiàng)目 分別進(jìn)行多次按鍵操作，其測試時間長，測試效率低。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種用于機(jī)頂盒測試的遙控器，該遙控器能夠提高測試機(jī)頂盒的 效率。 —種用于機(jī)頂盒測試的遙控器，該遙控器包括MCU，分別與MCU連接的鍵盤、串口 、 向機(jī)頂盒發(fā)射紅外信號的紅外發(fā)射頭，和通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元； 所述MCU接收鍵盤的按鍵指令，將存儲的與該按鍵指令對應(yīng)的測試內(nèi)容通過串口 發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元，所述測試內(nèi)容處理單元處理所述的測試內(nèi)容，將包括至少 一個測試項(xiàng)目的測試命令通過所述串口依次發(fā)送給所述的MCU ;所述MCU將所述測試命令 依次發(fā)送給所述的紅外發(fā)射頭。 可選地，所述測試內(nèi)容處理單元還包括擦寫操作模塊，所述擦寫操作模塊通過所 述串口與所述MCU相連，并通過所述串口對MCU存儲的測試內(nèi)容進(jìn)行擦寫操作。
3[0010] 可選地，該遙控器還包括顯示測試狀態(tài)或空閑狀態(tài)的發(fā)光二極管LED，與所述MCU 連接。 可選地，所述測試內(nèi)容處理單元是一通過高級技術(shù)發(fā)動機(jī)ATE下位機(jī)實(shí)現(xiàn)的測試 內(nèi)容處理單元。 可選地，所述串口為RS232串口。 從上述方案可以看出，本實(shí)用新型在遙控器中設(shè)置串口，以及通過該串口與MCU 相連接的測試內(nèi)容處理單元，MCU中存儲了與某個按鍵指令對應(yīng)的測試內(nèi)容，所述測試內(nèi)容 包括至少一個測試項(xiàng)目；進(jìn)行測試時，MCU接收所述某個按鍵指令，獲取存儲的與該按鍵指 令對應(yīng)的測試內(nèi)容，將該測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元；所述測試內(nèi)容 處理單元接收MCU發(fā)送的測試內(nèi)容后，針對測試內(nèi)容包括的各個測試項(xiàng)目，依次向MCU發(fā)送 測試命令；MCU接收所述測試內(nèi)容處理單元依次發(fā)送的測試命令，將測試命令通過所述紅 外發(fā)射頭依次發(fā)送給機(jī)頂盒。這樣，針對至少一個測試項(xiàng)目，測試人員只需輸入一個按鍵指 令，遙控器接收該按鍵指令后，便可自動完成所有測試；無需測試人員對每個測試項(xiàng)目分別 進(jìn)行多次按鍵操作，從而，降低了測試強(qiáng)度，節(jié)省了測試時間，提高了測試效率。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中用于機(jī)頂盒測試的遙控器的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為本實(shí)用新型用于機(jī)頂盒測試的遙控器的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下面結(jié)合實(shí)施例和附圖， 對本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。 參見圖2，為本實(shí)用新型用于機(jī)頂盒測試的遙控器的結(jié)構(gòu)示意圖，該遙控器不僅包 括紅外發(fā)射頭、鍵盤和MCU，還包括串口以及通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元； 所述MCU，用于存儲與某個按鍵指令對應(yīng)的測試內(nèi)容，所述測試內(nèi)容包括至少一個 測試項(xiàng)目；接收所述某個按鍵指令，獲取存儲的與該按鍵指令對應(yīng)的測試內(nèi)容，將該測試內(nèi) 容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元；接收所述測試內(nèi)容處理單元依次發(fā)送的測試命 令，將測試命令通過所述紅外發(fā)射頭依次發(fā)送給機(jī)頂盒； 所述測試內(nèi)容處理單元，用于接收所述MCU發(fā)送的測試內(nèi)容，針對測試內(nèi)容包括 的各個測試項(xiàng)目，依次向MCU發(fā)送測試命令。 MCU與鍵盤組成鍵盤掃描電路，按下鍵盤上的任意按鍵，MCU通過鍵盤掃描程序， 便可準(zhǔn)確識別出按下了哪個按鍵。這樣，MCU也能識別出與測試內(nèi)容對應(yīng)的按鍵指令。 可選地，所述測試內(nèi)容處理單元包括擦寫操作模塊，用于通過所述串口對MCU存 儲的測試內(nèi)容進(jìn)行擦寫操作。具體地，所述擦寫操作模塊通過所述串口與所述MCU相連； 進(jìn)行擦寫操作時，向所述擦寫操作模塊輸入擦寫命令，所述擦寫命令包括擦除MCU存儲的 部分或全部測試內(nèi)容，或者包括寫入指定的測試內(nèi)容，所述擦寫操作模塊接收擦寫命令后， 通過所述串口擦除MCU內(nèi)存儲的相應(yīng)測試內(nèi)容，或者通過所述串口向MCU寫入相應(yīng)的測試 內(nèi)容。MCU還可通過串口與網(wǎng)絡(luò)相連接，這樣，便可通過網(wǎng)絡(luò)對MCU存儲的測試內(nèi)容進(jìn)行 在線升級。所述測試內(nèi)容處理單元可以通過高級技術(shù)發(fā)動機(jī)(ATE， AdvancedTechnologyEngine)下位機(jī)實(shí)現(xiàn)，具體地，可以為PC中的ATE下位機(jī)?？蛇x地，測試內(nèi)容處理單元與MCU 之間的串口為RS232串口。 目前，機(jī)頂盒產(chǎn)品已有幾百上千種型號，采用現(xiàn)有的測試技術(shù)，需要為每種型號的 機(jī)頂盒配置不同的遙控器，這導(dǎo)致現(xiàn)有的遙控器不具有通用性。采用本實(shí)用新型提供的方 案，測試內(nèi)容處理單元可以通過串口對MCU內(nèi)存儲的測試內(nèi)容進(jìn)行擦寫操作，這樣，可根據(jù) 不同型號的機(jī)頂盒對測試內(nèi)容進(jìn)行修改，同一遙控器可用于測試不同型號的機(jī)頂盒，從而， 使遙控器具有通用性，節(jié)省了生產(chǎn)遙控器的成本。 可選地，該遙控器進(jìn)一步包括發(fā)光二級管(LED, Light-Emitting Diode);所述 MCU進(jìn)一步用于在接收到所述按鍵指令時，使LED顯示為測試狀態(tài)，在接收到測試內(nèi)容處理 單元發(fā)送的最后一個測試命令后，使LED顯示為空閑狀態(tài)。LED為測試指示燈，當(dāng)LED亮?xí)r， 表示正在測試，當(dāng)LED滅時，表示測試完畢。MCU獲知測試內(nèi)容處理單元發(fā)送的測試命令為 最后一個測試命令的方法可以為測試內(nèi)容處理單元向MCU發(fā)送最后一個測試命令時，通 知MCU該測試命令為最后一個測試命令。 為簡便起見，下面以MCU內(nèi)存儲的測試內(nèi)容包括兩個測試項(xiàng)目為例對本實(shí)用新型 的測試方案進(jìn)行舉例說明，假設(shè)該兩個測試項(xiàng)目為左旋電壓測試和機(jī)頂盒版本號測試，具 體地，該測試內(nèi)容包括首先進(jìn)行左旋電壓測試，經(jīng)過5s后進(jìn)行機(jī)頂盒版本號測試。測試人 員按下鍵盤上與該測試內(nèi)容對應(yīng)的某一指定按鍵，也就是通過鍵盤向MCU輸入按鍵指令， MCU接收按鍵指令后，將存儲的該測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給測試內(nèi)容處理單元，并同時使 LED顯示為亮；測試內(nèi)容處理單元接收該測試內(nèi)容后，首先向MCU發(fā)送左旋電壓測試命令， 經(jīng)過5s后向MCU發(fā)送機(jī)頂盒版本號測試命令，并通知MCU該機(jī)頂盒版本號測試命令為最后 一個測試命令；MCU接收測試內(nèi)容處理單元發(fā)送的左旋電壓測試命令后，通過紅外發(fā)射頭 發(fā)送給機(jī)頂盒；隨后，MCU接收測試內(nèi)容處理單元發(fā)送的機(jī)頂盒版本號測試命令，將機(jī)頂盒 版本號測試命令通過紅外發(fā)射頭發(fā)送給機(jī)頂盒，并使LED處理關(guān)閉狀態(tài)。 由上述實(shí)例可見，對左旋電壓和機(jī)頂盒版本號進(jìn)行測試，測試人員只需按下鍵盤 上指定的一個按鍵，遙控器便可自動完成相應(yīng)的測試操作；而無需測試人員進(jìn)行多次按鍵 操作。從而，降低了測試強(qiáng)度，節(jié)省了測試時間，提高了測試效率。 以上所述的具體實(shí)施例，對本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一 步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例而已，并不用于限定本 實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改 進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求一種用于機(jī)頂盒測試的遙控器，其特征在于，該遙控器包括微控制器MCU，分別與MCU連接的鍵盤、串口、向機(jī)頂盒發(fā)射紅外信號的紅外發(fā)射頭，和通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元；所述MCU接收鍵盤的按鍵指令，將存儲的與該按鍵指令對應(yīng)的測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元，所述測試內(nèi)容處理單元處理所述的測試內(nèi)容，將包括至少一個測試項(xiàng)目的測試命令通過所述串口依次發(fā)送給所述的MCU；所述MCU將所述測試命令依次發(fā)送給所述的紅外發(fā)射頭。
2. 如權(quán)利要求1所述的遙控器，其特征在于，所述測試內(nèi)容處理單元還包括擦寫操作模塊，所述擦寫操作模塊通過所述串口與所述MCU相連，并通過所述串口對MCU存儲的測試內(nèi)容進(jìn)行擦寫操作。
3. 如權(quán)利要求1所述的遙控器，其特征在于，該遙控器還包括顯示測試狀態(tài)或空閑狀態(tài)的發(fā)光二極管LED,與所述MCU連接。
4. 如權(quán)利要求1所述的遙控器，其特征在于，所述測試內(nèi)容處理單元是一通過高級技術(shù)發(fā)動機(jī)ATE下位機(jī)實(shí)現(xiàn)的測試內(nèi)容處理單元。
5. 如權(quán)利要求1所述的遙控器，其特征在于，所述串口為RS232串口。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種用于機(jī)頂盒測試的遙控器，該遙控器包括微控制器MCU，分別與MCU連接的鍵盤、串口、向機(jī)頂盒發(fā)射紅外信號的紅外發(fā)射頭，和通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元；所述MCU接收鍵盤的按鍵指令，將存儲的與該按鍵指令對應(yīng)的測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元，所述測試內(nèi)容處理單元處理所述的測試內(nèi)容，將包括至少一個測試項(xiàng)目的測試命令通過所述串口依次發(fā)送給所述的MCU；所述MCU將所述測試命令依次發(fā)送給所述的紅外發(fā)射頭。本實(shí)用新型方案能夠提高測試機(jī)頂盒的效率。
文檔編號G08C23/04GK201491194SQ20092017410
公開日2010年5月26日 申請日期2009年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月21日
發(fā)明者張征岑 申請人:深圳市同洲電子股份有限公司