技術(shù)編號：12174644
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及精密測量領(lǐng)域，尤其涉及一種基于新型量子弱測量的高精密磁場計。背景技術(shù)利用物理學(xué)的基本原理實現(xiàn)高精密測量是推動物理學(xué)本身和精密測量技術(shù)發(fā)展的重要驅(qū)動力，尤其是基于光學(xué)原理和技術(shù)的高精密測量方法已經(jīng)可以用來測量引力波造成的微小相位擾動和實現(xiàn)超越衍射極限的成像。弱測量是從量子力學(xué)基本原理出發(fā)，用來放大微弱信號的一個有效手段，它在消耗大量的測量樣本的同時可以帶來更高的信噪比，具有經(jīng)典方法無法達(dá)到的分辨能力。測量的含義就是把物體的某一性質(zhì)，也就是物理學(xué)上說的可觀測量，通過與另外一個物體，也就是“...
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