技術編號：12783736
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。多基準相關的雙采樣檢測方法及使用該方法的微測輻射熱計相關申請的交叉引用本申請依據(jù)35U.S.C.§119請求2015年9月24日遞交的申請?zhí)枮?0-2015-0135675的韓國專利申請的優(yōu)先權以及由此產(chǎn)生的所有權益，該申請的內(nèi)容通過引用全部并入本文。技術領域本發(fā)明涉及使用微測輻射熱計陣列的檢測電路中的多基準相關的雙采樣檢測方法以及使用該方法的微測輻射熱計，并且尤其涉及一種多基準相關的雙采樣檢測方法以及使用該方法的微測輻射熱計，其能夠降低各種固定模式噪聲且容易去除熱電冷卻器和快門。背景技術紅外線...
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