技術(shù)編號：40598732
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及芯片驗證，具體涉及ram存儲器的測試方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、芯片中的ram存儲器包含sram和dram兩種類型。sram的存儲單元為鎖存器，只有兩種狀態(tài)，通常被用作高速緩沖存儲器。由于ram在復雜電磁或空間環(huán)境下容易產(chǎn)生數(shù)據(jù)錯誤，所以在芯片設(shè)計環(huán)節(jié)，會在ram中預留部分存儲單元用來存儲校驗值。錯誤數(shù)據(jù)檢查和糾正模塊在對ram進行數(shù)據(jù)讀寫操作時，會計算并處理校驗值，并將結(jié)果反饋到待測ram存儲器的特定部分。因此，在rtl級芯片驗證過程中，對ram存儲器中的該模塊進行...
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