技術(shù)編號：6032304
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及通信及微電子領(lǐng)域，尤其涉及在容錯測試中邊界掃描芯片故障插入的一種方法和系統(tǒng)。在實際應(yīng)用中，系統(tǒng)出現(xiàn)故障的原因是由于芯片異常引起的，原因是1、任何器件都有一定的失效率，哪怕失效率很低。2、有些器件由于生產(chǎn)廠家的原因，會出現(xiàn)批次性失效。3、器件都有一定生命周期，到達(dá)一定使用時間后也必然會逐步失效。為了避免上述缺陷給系統(tǒng)造成嚴(yán)重的后果，業(yè)界通常通過各種測試手段發(fā)現(xiàn)這類問題，將故障隱患消滅在萌芽狀態(tài)。芯片異常測試是一種攻擊性容錯測試方法，通過模擬芯片的各...
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