技術編號：6756481
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明為一種，尤指盤片刻錄機與其所執(zhí)行的射頻信號質量檢測方法。背景技術 請參見圖1，其為光盤刻錄機中光學讀寫頭1的構造示意圖，半導體激光模塊11發(fā)出激光，經(jīng)過透鏡14以及物鏡15的折射后照射在光盤片2上，并經(jīng)光盤片2反射回到光學讀寫頭1由光偵測器12接收。當光盤刻錄機對光盤片2進行寫入時，是以半導體激光模塊11發(fā)出特定功率范圍的激光將在光盤片2的燒錄材料上刻下記號，意即，進行燒錄的激光功率有一限制區(qū)間，過高或者過低都容易造成寫入質量不佳甚至寫入動作失敗。而...
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