1.一種解析度測(cè)試圖卡，其特征在于，包括下端具有開口的球面罩，所述球面罩內(nèi)表面上設(shè)置有若干水平測(cè)試條紋和若干豎直測(cè)試條紋；
所述水平測(cè)試條紋沿著所述球面罩的水平方向延伸，從所述球面罩的頂點(diǎn)向所述開口處分布，形成第一測(cè)試區(qū)域，所述水平測(cè)試條紋在水平面上的投影為同心圓環(huán)；
所述豎直測(cè)試條紋沿著所述球面罩的豎直方向分布，從所述開口的一側(cè)延伸經(jīng)過所述球面罩的頂部到達(dá)所述開口相對(duì)的一側(cè)，形成第二測(cè)試區(qū)域，所述第二測(cè)試區(qū)域居中分布在所述球面罩的內(nèi)表面，所述豎直測(cè)試條紋覆蓋與其交叉的水平測(cè)試條紋，且所述豎直測(cè)試條紋在水平面上的投影為相互平行的直條。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解析度測(cè)試圖卡，其特征在于，所述球面罩內(nèi)表面上設(shè)置有兩個(gè)以上的所述第二測(cè)試區(qū)域，所述球面罩內(nèi)表面上還設(shè)置有空白區(qū)域；
所述空白區(qū)域覆蓋所述兩個(gè)以上的第二測(cè)試區(qū)域的交叉區(qū)域，且所述空白區(qū)域在水平面上的投影為圓形。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的解析度測(cè)試圖卡，其特征在于，所述兩個(gè)以上的第二測(cè)試區(qū)域均勻分布在所述球面罩的內(nèi)表面上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的解析度測(cè)試圖卡，其特征在于，所述空白區(qū)域內(nèi)還設(shè)置有第三測(cè)試區(qū)域，所述第三測(cè)試區(qū)域由若干個(gè)形狀相同的子區(qū)域組成，每個(gè)子區(qū)域內(nèi)設(shè)置有若干短測(cè)試條紋；
所述第三測(cè)試區(qū)域及其各個(gè)子區(qū)域在水平面上的投影均為矩形，每個(gè)子區(qū)域內(nèi)的短測(cè)試條紋在水平面上的投影為直條，且相鄰子區(qū)域的短測(cè)試條紋在水平面上的投影相互垂直。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的解析度測(cè)試圖卡，其特征在于，所述測(cè)試條紋的寬度，以及相鄰測(cè)試條紋的間距根據(jù)待測(cè)試鏡頭解析度的精度和球面罩尺寸確定。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的解析度測(cè)試圖卡，其特征在于，所述測(cè)試條紋的寬度相同，每個(gè)測(cè)試區(qū)域內(nèi)相鄰測(cè)試條紋的間距相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解析度測(cè)試圖卡，其特征在于，所述球面罩透光或者不透光。
8.一種超廣角鏡頭的解析度測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：
采用如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的解析度測(cè)試圖卡；
將待測(cè)量的超廣角鏡頭朝向所述解析度測(cè)試圖卡的球面罩內(nèi)表面設(shè)置，并且將所述待測(cè)量的超廣角鏡頭的光學(xué)中心設(shè)置在所述球面罩的球心上；
使所述超廣角鏡頭拍攝所述測(cè)試區(qū)域，得到測(cè)試圖像；
利用得到的測(cè)試圖像檢測(cè)所述超廣角魚眼鏡頭的解析度。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的解析度測(cè)試方法，其特征在于，所述超廣角鏡頭的視場(chǎng)角大于或等于150°。