技術(shù)特征：

1.一種ram存儲器的測試方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在利用待測ram存儲器相匹配的糾錯功能驗證平臺生成測試指令集合之前，所述方法還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述提取所述功能描述文檔中的配置信息，并將所述配置信息輸入對應(yīng)的預(yù)設(shè)模板文件中，生成多個功能模塊，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述提取所述功能描述文檔中的配置信息，并將所述配置信息輸入對應(yīng)的預(yù)設(shè)模板文件中，生成多個功能模塊，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述提取所述功能描述文檔中的配置信息，并將所述配置信息輸入對應(yīng)的預(yù)設(shè)模板文件中，生成多個功能模塊，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析所述第一糾錯結(jié)果以及所述第二糾錯結(jié)果，生成所述待測ram存儲器的測試報告，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在生成所述待測ram存儲器的測試報告之后，所述方法還包括：

8.一種ram存儲器的測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

9.一種計算機設(shè)備，其特征在于，包括：

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)上存儲有計算機指令，所述計算機指令用于使計算機執(zhí)行權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及芯片驗證技術(shù)領(lǐng)域，公開了RAM存儲器的測試方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)，方法包括：利用待測RAM存儲器相匹配的糾錯功能驗證平臺生成測試指令集合；基于測試指令集合控制待測RAM存儲器執(zhí)行對應(yīng)的測試操作，并對執(zhí)行過程中產(chǎn)生的錯誤數(shù)據(jù)進行糾正，得到第一糾錯結(jié)果；獲取參考模型輸出的第二糾錯結(jié)果，其中，參考模型為與待測RAM存儲器具有相同錯誤檢測功能以及錯誤糾正功能的基準(zhǔn)模型；分析第一糾錯結(jié)果以及第二糾錯結(jié)果，生成待測RAM存儲器的測試報告。本發(fā)明解決了芯片EDA驗證時，由于RAM存儲器功能模塊特性不同，驗證需要反復(fù)搭建環(huán)境、編寫測試指令而效率低的問題。

技術(shù)研發(fā)人員：李奔,劉世偉,姚香君,夏麗煖,孔德智博,羅迪,許強
受保護的技術(shù)使用者：山東云海國創(chuàng)云計算裝備產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6